121. Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits /
پدیدآورنده : Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Digital.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Microelectronics.
رده :
TK7874
.
B35
2010
122. Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty
پدیدآورنده : Bahukudumbi, Sudarshan.
کتابخانه: کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی آیت الله ایمانی دانشگاه سلمان فارسی (فارس)
موضوع : Integrated circuits, Testing,Integrated circuits, Wafer-scale integration,Semiconductors, Testing
رده :
TK
7874
.
B22W3
2010
123. X-ray absorption spectroscopy of semiconductors
پدیدآورنده : / Claudia S. Schnohr, Mark C. Ridgway, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors--Testing,X-ray spectroscopy.,X-rays--Industrial applications
رده :
TK7871
.
85
.
X7
2015